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超高光通量X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀

簡要描述:超高光通量X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀,采用獨特的Johann型羅蘭圓單色器設(shè)計,無需同步輻射光源,從點光源發(fā)射的X射線滿足Bragg方程并發(fā)生衍射重新匯聚于羅蘭圓的探測器處,通過改變Bragg角度獲得不同能量的單色光,從而實現(xiàn)在常規(guī)實驗室中進行高質(zhì)量的XAFS測試。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2026-03-23
  • 訪  問  量:77

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將同步輻射裝置“搬進"實驗室 

  超高光通量X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀


超高光通量X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀優(yōu)勢 

數(shù)據(jù)可靠:數(shù)據(jù)與同步輻射高度一致 

能量范圍:4.5-15keV,可擴展至20keV 

測試元素:實現(xiàn)3d,5d,稀土元素過渡金屬測試 

自主可控:90%部件自主可控,無政策風(fēng)險

 高產(chǎn)出:在一年時間內(nèi)幫助客戶發(fā)表高檔次論文一百二十多篇 

高性能:1小時內(nèi)完成1%含量樣品測試 

高光通量:>2,000,000 photons/sec@8keV 

簡單易用:只需半天培訓(xùn)即可上機操作 

低維護成本:無需專人維護、操作、管理等 

  

超高光通量X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀原理 

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)也叫X射線吸收譜(X-ray Absorption Spectroscopy,XAS),是一種基于同步輻射光源、研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的一種有力工具,廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱們領(lǐng)域。 

RapidXAFS采用獨特的Johann型羅蘭圓單色器設(shè)計,無需同步輻射光源,從點光源發(fā)射的X射線滿足Bragg方程并發(fā)生衍射重新匯聚于羅蘭圓的探測器處,通過改變Bragg角度獲得不同能量的單色光,從而實現(xiàn)在常規(guī)實驗室中進行高質(zhì)量的XAFS測試。 

XAFS譜: 

X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES) 

擴展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS) 

EXAFS 

能量范圍大概在吸收邊后50eV到1000eV,來源于X射線激發(fā)出來的內(nèi)層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應(yīng)的結(jié)果。 

XANES 

吸收邊前約10eV至吸收邊后約50eV的范圍,其主要來源于X射線激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應(yīng)。 



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